第33回 分析電子顕微鏡討論会のお知らせ


主催
公益社団法人 日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会
協賛
日本材料学会、触媒学会、日本熱処理技術協会、日本鉄鋼協会、日本金属学会、日本分析化学会、日本表面科学会、応用物理学会、日本セラミックス協会、軽金属学会、日本物理学会
日時
2017年9月5日(火) 10:00-16:45 (受付 9:20〜)
2017年9月6日(水) 10:00-16:15 (受付 9:30〜)
(分析展 JASIS2017 (主催:日本分析機器工業会)と共催)
会場
幕張メッセ国際会議場2階 国際会議室 (〒261-0023 千葉市美浜区中瀬 2-1)
最寄駅 JR海浜幕張駅 徒歩10分 / JR,京成 幕張本郷駅よりバス15分 / 羽田、成田空港よりバス 40分
9月6日は幕張本郷駅ほかよりJASIS シャトルバスも利用いただける見込みです。⇒JASIS2017 アクセスガイド
海浜幕張駅から徒歩が便利です。
参加費
日本顕微鏡学会会員(個人会員)及び協賛学会員(個人会員) 6,000円(予稿集含む)
非会員 7,000円(予稿集含む)
学生 無料(予稿集が必要な方は 1,500円)
※ 法人会員は非会員扱いとなります
※ 参加費に飲食費は含みません
※ 日本顕微鏡学会会員は消費税 不課税、それ以外は内税となります。
内容
分析電子顕微鏡に関わるチュートリアルと研究トピックス(一般講演含む)について講演が行われます。チュートリアルでは、分析電顕の基軸となるEDS、EELSに加えて、信号解析に関する詳しい講演がなされます。初日のトピックスセッションでは、「電子線照射に弱い試料分析」に焦点をあてて、電子線照射の効果や最新の研究事例を紹介します。二日目は「電子線 vs X線―どちらがすごい?」というトピックスセッションで、電子線とX線を用いた構造・状態解析に関する先導的な研究が報告されます。なお本年度は二日目の午後全枠を一般講演セッションに設定し、分析電顕に関わる活発な討論の機会を設けます。一般講演に奮ってご参加ください。

参加申込方法

事前登録は終了しました。まだ定員に余裕がありますので、当日参加の方は会場前にて受付いたします。ご参加をお待ちしております。

当日登録用 参加登録票です。記入して受付までお持ち下さい。
参加登録票 ⇒ MS-Word 形式 / ⇒ PDF 形式

振り込みによる参加費支払いも締切らせていただきます。当日現金払いにご協力下さい。

本討論会は JASIS コンファレンス として実施されます。本討論会参加登録のほか JASIS2017 入場登録が必要です。当日朝はJASIS受付の混雑が予想されますので、JASIS 事前入場登録をお願いいたします。⇒ JASIS 2017

連絡先(代表世話人)

〒611-0011 京都府 宇治市 五ヶ庄
  京都大学 化学研究所 複合ナノ解析化学 内
  分析電子顕微鏡討論会事務局
  治田 充貴
  Fax: 0774-38-3055
  E-mail: bunseki33@eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp

プログラム (2017年7月31日版)
* プログラムの内容(発表順等)は掲載時点の予定であり、今後調整させて頂く可能性もございます。
* プログラム変更の際にはこのページにて告知いたします
9月5日(火) 10:00-16:45
チュートリアル (各40分) 座長: 佐藤(九州大学)
10:00-Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDXS) for Analytical Electron Microscope奥西 栄治日本電子
10:40-EELSの基礎と解釈溝口 照康東京大学
11:20-情報統計処理による信号抽出法の基礎武藤 俊介名古屋大学
昼食 12:00-13:30
トピックス1 「電子線照射に弱い試料の分析」 座長: 板東(NIMS)
13:30-TEMによる電子照射効果の研究 ――点欠陥導入によって誘起される相変態(HVEM)から内殻励起によって誘起される固相反応(10kVEM)まで――森 博太郎大阪大学
14:10-燃料電池ナノ材料のTEM解析上野 武夫山梨大学
14:40-規則性多孔質材料の高分解能電子顕微鏡法と電子線照射ダメージ阪本 康弘東北大学
休憩 15:10-15:20
15:20-ナノ粒子触媒の環境TEM観察吉田 秀人大阪大学
15:50-電子線ホログラフィーによる絶縁体の電子線照射効果の観察赤瀬 善太郎1・進藤 大輔1,2東北大学1, 理化学研究所2
16:20-総合討論
9月6日(水) 10:00-16:15
トピックス2 「電子線 vs X線 ―― どっちがすごい?」 (各30分) 座長: 市野瀬
10:00-収束電子回折による局所構造・静電ポテンシャル分布解析津田 健治東北大学
10:30-放射光X線回折による強誘電体の静的・時分割構造物性研究の進展黒岩 芳弘広島大学
11:00-電子線を用いた局所状態分析と物質機能解析寺内 正己・佐藤 庸平東北大学
11:30-高輝度X線放射光で探る機能性物質の電子状態木村 昭夫広島大学
昼食 / JASIS 展示見学時間 12:00-14:00
一般講演 1 (各15分) 座長: 山田 克美 (JFE スチール)
14:00-原子コラムEDX マップによる PbCrO3 の電荷ガラス状態での Pb2+/Pb4+ 変位分布
久留島 康輔1,2・尾形 昂洋3・酒井 雄樹4・東 正樹3・石井 悠衣2・森 茂生2
東レリサーチセンター1, 大阪府立大学2, 東京工業大学3, 神奈川科学技術アカデミー4
14:15-複数検出器を用いたSTEM-EDSによる定量元素分析のための吸収補正法の進展
Thijs Withaar, Alex Bright, Marina Borodachenkova and Bert Freitag
Thermo Fisher Scientific
14:30-高傾斜分析用ホルダと試料傾斜軸上に配置されたSDDによる高精度EDSトモグラフィ
青山 佳敬・大西 市朗・遠藤 徳明・奥西 栄治・近藤 行人
日本電子
14:45-非晶質構造観察像の定量的解釈に向けた検討
本谷 宗
三菱電機
休憩 15:00-15:15
一般講演 2 (各15分) 座長: 近藤 行人 (日本電子)
15:15-ソフトマテリアル用その場引張TEMホルダーの開発
樋口 剛志1・權堂 貴志2・宮崎 裕也2・阪本 康弘1・阮 娟芳1・陣内 浩司1
東北大学1・メルビル2
15:30-カイラル磁気構造の電流応答観察とドメイン分布解析
柴田 基洋1, 谷垣 俊明2, 明石 哲也2, 品田 博之2, 原田 研1, 新津 甲大1, 進藤 大輔1,3, 金澤 直也4, 十倉 好紀1,4, 有馬 孝尚1,4
理化学研究所1, 日立製作所2, 東北大学3, 東京大学4
15:45-直接検出型カメラの材料系試料観察における有効性の検討
伊野家 浩司1, Ming Pan2
日本ローパー1, Gatan, Inc.2
16:00-ピクセル型STEM検出器の開発とその応用
佐川 隆亮・橋口 裕樹・中村 明穂・福田 知久・齊藤 隆光・染原 一仁・近藤 行人
日本電子

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