第28回 分析電子顕微鏡討論会のお知らせ


2013年の分析電子顕微鏡討論会の情報につきましては http://eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp/bunseki2013/ にてご案内させていただく予定です。今後の更新情報はそちらをご覧下さい。


以下 2012年実施時の情報です。ご注意下さい。


主催
日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡分科会 代表責任者 倉田 博基(京都大学)
協賛
日本鉄鋼協会、触媒学会、日本物理学会、日本分析化学会、日本表面科学会、軽金属学会、日本金属学会、日本セラミックス協会、日本材料学会、日本熱処理技術協会、応用物理学会
開催日
平成24年9月4日(火)、5日(水) / 受付開始 9:30
場 所
幕張メッセ 国際会議場 国際会議室 (千葉県美浜区中瀬2-1)
最寄駅 JR海浜幕張駅 徒歩10分 / JR,京成 幕張本郷駅よりバス15分 / 羽田、成田空港よりバス 40分
9月5日は JASIS シャトルバス、送迎バスを利用可能です。(一部予約制)
参加費
顕微鏡学会会員及び協賛学会員(個人会員) 6,000円(予稿集含む)、
非会員 7,000円円(予稿集含む)、
学生 無料(ただし、予稿集が必要な方は 1,000円で販売いたします)
(支払いは会場受付にて、現金のみとなります)
内容
EDS, EELS及びSTEM観察やトモグラフィーに関する基礎と共に、環境電子顕微鏡による観察や歪み解析の最前線、試料作製法に関する最新情報を紹介します。一般からの口頭発表も募集していますので、奮ってご参加ください。

参加申込方法

事前登録は打ち切らせていただきます。まだ定員には余裕がありますので、参加ご希望の方は当日受付にてお申込み下さい。当日登録枠は約40名となります。

日本分析機器工業会のJASIS 2012 (旧 分析展/科学機器展) 会場内での開催となりますので、本討論会の参加登録と共に JASIS 2012 への参加登録も必要です。

申込先(連絡先)

〒611-0011 宇治市 五ヶ庄
京都大学 化学研究所 複合ナノ解析化学内
分析電子顕微鏡討論会 事務局 (代表 倉田 博基)

Fax 0774-38-3055
e-mail: bunseki28@eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp

プログラム
9月4日(火) 10:00-17:00
チュートリアル (各35分) 座長: 坂口 紀史
10:00-エネルギー分散型X線分光法(EDS)奥西 栄治日本電子
10:35-EELS倉田 博基京都大学
11:10-STEM入門木本 浩司物質・材料研究機構
11:45-TEM-CT法とFIB-シリアルセクショニング法金子 賢治九州大学
昼食 12:20-13:30
トピックス1 「ありのままを観る」 (各25分) 座長: 朝山 匡一郎
13:30-イトカワ試料ハンドリングとTEM/EDS観察・分析における雰囲気遮断野口 高明茨城大学
13:55-電池関連ナノ材料の電顕解析上野武夫・矢口紀恵・今村大地・清水貴弘山梨大学・日立ハイテク・日本自動車研究所
14:20-大気圧SEMとその応用須賀 三雄日本電子
14:45-環境制御・位相差電子顕微鏡による生体高分子の観察稲吉悠里・箕田弘喜東京農工大学
休憩 15:10-15:20
トピックス2 「歪み解析の最前線」 (各25分) 座長: 奥西 栄治
15:20-半導体中の歪の可視化朝山 匡一郎ルネサスエレクトロニクス
15:45-鋼中の析出物/母相界面構造と整合歪重里 元一新日本製鐵
16:10-EBSDパターンを用いた格子歪解析の現状とその可能性鈴木 清一TSLソリューションズ
16:35-CBEDおよびNBDをもちいた高精度格子歪み解析齋藤 晃名古屋大学
9月5日(水) 10:00-16:35
試料作製 (各25分) 座長: 大門 建夫・柿林 博司
10:00-元素分析のための生物試料作製の固定法による違い亀谷 清和信州大学
10:25-鉄鋼材料における電解研磨試料作製山田 克美JFEスチール
休憩 10:50-11:00
11:00-FIBによる無機材料の試料作製加藤 丈晴ファインセラミックスセンター
11:25-ソフトマテリアルを中心とした複合材料の超薄切片作製法とその応用長澤 忠広ライカマイクロシステムズ
昼食 12:00-13:30
特別講演 座長: 市野瀬 英喜
13:30-ミトコンドリアの起源からわれわれの細胞の「基」を読む黒岩 常祥立教大学
休憩 14:30-14:50
一般講演1 (各15分) 座長: 山田 克美
14:50-High-Speed, Simultaneous EELS and EDS STEM-SI Acquisition
A. Maigne, R.D. Twesten, P. Longo, A. Aitouchen and P.J. ThomasGatan Inc.
15:05-含水液体試料のクライオFIB加工とSEM観察
土谷 美樹・森川 晃成・岩堀 敏行・長久保 康平日立ハイテクノロジーズ
15:20-リアルタイム3DアナリティカルFIB-SEMの特長と三次元解析における応用例の紹介
満 欣・麻畑 達也・上本 敦・鈴木 秀和・大柿 真毅・荷田 昌克・藤井 利昭エスアイアイ・ナノテクノロジー
休憩 15:35-15:50
一般講演2 (各15分) 座長: 倉田 博基
15:50-GdBa2Cu3O7-xにおけるBaHfO3のSTEMトモグラフィ法による解析
西山 武志・山田 和広・寺西 亮・金子 賢治・加藤 丈晴・飛田 浩史・和泉 輝郎・塩原 融九州大学・JFCC・ISTEC
16:05-アルミニウム合金における析出物のFIBトモグラフィ法による解析
山田 和広・金子 賢治・谷口 慎・完山 正林・岩堀 安晃・鈴木 直久九州大学・日本エフイー・アイ
16:20-雰囲気遮断FIB/STEMシステムを用いたネオジム磁石の微細構造解析
森川 晃成・佐藤 高広・今野 充・揚村 寿英日立ハイテクノロジーズ

Links

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